日本horiba硅片表面光潔度檢測IG-410 

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高光澤度光澤度檢查儀IG-410是一種方便使用的類型，可方便地進行現(xiàn)場工作，并且只需將與顯示單元分開的測量單元應用于被攝體即可進行測量。使用近紅外線作為光源，并測量了1000的光澤度（鏡面反射率100）。

無需預熱。對于需要高表面光澤度的產(chǎn)品（例如用于汽車前燈的照明反光器，用于復印機的反光器和硅片）的質(zhì)量控制而言，它是理想的選擇。

IG-410 可用于測量超高光澤表面，如拋光金屬。該儀表的測量范圍是傳統(tǒng)型號的十倍，甚至連鏡面也可以測量。

重量僅為350克（1.3磅），電池驅(qū)動，儀器更為便攜。通過簡單的一鍵式操作可進行快速可靠的測量。LED光源的使用壽命＜100000小時，因此無需更換零件。

IG-410 有兩個可供用戶選擇的測量范圍，具體取決于待測量的樣品。低光澤樣品可使用0 ~100范圍測量，高光澤樣品可使用0 ~ 1000范圍測量。提供兩個校準板，方便用戶使用簡單的一鍵式校準程序，以確保結(jié)果的再現(xiàn)性。

特征

• 甚至在金屬等高光澤區(qū)域
  也可以量化“模糊度" IG-410可以測量金屬等高光澤區(qū)域，是光澤度檢查儀IG系列的新產(chǎn)品。測量范圍是0到100，是傳統(tǒng)型號的10倍。也可以測量鏡面樣品。

• 緊湊輕巧的設(shè)計，易于現(xiàn)場測量
  重量僅為350g，易于攜帶。由于是一鍵式操作，因此可以將其帶到生產(chǎn)現(xiàn)場以方便測量。
  由于將LED用作光源，因此無需擔心光源的壽命。

• 可以通過
  在2個范圍之間切換來測量低光澤度，可以在0到100和0到100的2個范圍之間切換。每個范圍都帶有自己的校準板。
  IG-410不僅可以測量高光澤度金屬，還可以測量低光澤度區(qū)域，例如涂在金屬板上的樣品。

應用實例

• 用于檢查金屬產(chǎn)品表面狀況的光潔度

• 用于檢查軋制鋁板和不銹鋼板的外觀

• 用于檢查電鍍產(chǎn)品的外觀

• 用于檢查硅片的表面光潔度

*由于光澤度是通過光的反射來測量的，因此測量點必須平坦。

日本horiba硅片表面光潔度檢測IG-410 

規(guī)范