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  • 日本MIC超高精度、超精密電阻檢測AE-163D

    日本MIC超高精度、超精密電阻檢測AE-163D 非常適合用于 B、C、D、F、G、J、K 級(jí)、插入、melph 、徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機(jī)

    更新日期:2024-03-20    訪問量:1286    

  • AE-162L兼容超小芯片高精度、數(shù)字電阻檢測器

    日本MIC兼容超小芯片高精度、數(shù)字電阻檢測器AE-162L D、F、G、J、K級(jí)超小尖頭(0201、03015)兼容編帶機(jī) 0201、03015尺寸超小型芯片兼容(測量功率0.02W以下/測量端子開路電壓9V以下)

    更新日期:2024-03-20    訪問量:1170    

  • 日本MIC超高速芯片電阻檢測儀AE-162E

    日本MIC超高速芯片電阻檢測儀AE-162E 由于模數(shù)隔離提高了抗噪性,因此穩(wěn)定性高 兼容極小的芯片(低功耗測量) 超高速 0.7msec.(代表值)

    更新日期:2024-03-20    訪問量:1186    

  • 日本MIC超高速芯片電阻檢測儀AE-162D

    日本MIC超高速芯片電阻檢測儀AE-162D 適用于 D、F、G、J、K 級(jí)、芯片、melph、徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機(jī)

    更新日期:2024-03-20    訪問量:1216    

  • 日本imt獨(dú)立負(fù)載型自動(dòng)拋光機(jī) Rana-3

    日本imt獨(dú)立負(fù)載型自動(dòng)拋光機(jī) Rana-3 Rana-3采用單獨(dú)加載方式,可自由設(shè)置1-6個(gè)樣品。 由于可以改變支架的轉(zhuǎn)數(shù),所以可以在相同的轉(zhuǎn)數(shù)下對支架和盤進(jìn)行拋光,并且拋光表面不會(huì)傾斜或變成鉛筆狀。 支架和圓盤都可以向前和向后旋轉(zhuǎn)。

    更新日期:2024-03-20    訪問量:1407    

  • 日本imt滾筒式樣品拋光機(jī)SP-As1 / As2

    日本imt滾筒式樣品拋光機(jī)SP-As1 / As2 用于安裝拋光機(jī) IM-P2 的滾筒式樣品旋轉(zhuǎn)機(jī)。 拋光非嵌入樣品時(shí),可將SP-As1連接到拋光機(jī)IM-P2上,實(shí)現(xiàn)自動(dòng)拋光。 非常適合長時(shí)間低速包裹的樣品。 也可提供與樣品匹配的定制支架。

    更新日期:2024-03-20    訪問量:1623    

  • 日本imt實(shí)驗(yàn)拋光機(jī)組合IM-P2+SP-L1

    日本imt實(shí)驗(yàn)拋光機(jī)組合IM-P2+SP-L1 用于安裝拋光機(jī) IM-P2 的樣品旋轉(zhuǎn)機(jī)。 拋光嵌入樣品時(shí),將 SP-L1 連接到拋光機(jī) IM-P2 以啟用自動(dòng)拋光。 由于可以改變磁頭轉(zhuǎn)速,因此可以以相同的轉(zhuǎn)速對支架和光盤進(jìn)行拋光,防止拋光表面傾斜或變成鉛筆狀,并且可以在不失去平行度的情況下進(jìn)行研磨。

    更新日期:2024-03-20    訪問量:1384    

  • 日本imt臺(tái)式樣品拋光機(jī) IM-P2

    日本imt臺(tái)式樣品拋光機(jī) IM-P2 IM-P2是一款于手工拋光的拋光設(shè)備。通過改裝樣品旋轉(zhuǎn)機(jī)也可以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化。 工作臺(tái)高度便于更換圓盤并用手拋光。 搭載了即使在高轉(zhuǎn)速和低速范圍內(nèi)也能產(chǎn)生強(qiáng)大扭矩的電機(jī)!

    更新日期:2024-03-20    訪問量:1427    

  • 低價(jià)納米粒子生產(chǎn)設(shè)備 制粒設(shè)備

    低價(jià)納米粒子生產(chǎn)設(shè)備 直流電弧電源300A,濾波器-1 片RP GHP-150與OMT,循環(huán)泵100L /分鐘 皮拉尼真空計(jì)(PT-4P),安全閥 水冷電極(與W碼片),納米顆粒熱交換器

    更新日期:2025-05-02    訪問量:2194    

  • 超細(xì)粒子/納米粒子制造設(shè)備

    超細(xì)粒子/納米粒子制造設(shè)備 超細(xì)粒子/納米粒子制造裝置的目的是通過在氫氣(與氬氣混合)或氮?dú)獾葰怏w氣氛中通過電弧熔化來強(qiáng)制蒸發(fā)材料以制造超細(xì)粒子/納米粒子。它被開發(fā)出來。超細(xì)顆粒和納米顆粒的目標(biāo)材料范圍很廣,包括各種金屬、合金和陶瓷。

    更新日期:2025-05-02    訪問量:2246    

  • Arasamir零件噴嘴內(nèi)表面無損測量儀

    日本futaku零件噴嘴內(nèi)表面無損測量儀Arasamir 對于醫(yī)療用分配噴嘴,如果用于預(yù)測試的樣品保留在噴嘴內(nèi),則測試值將波動(dòng),并且無法進(jìn)行準(zhǔn)確的樣品分析。 分配噴嘴所需的質(zhì)量是在內(nèi)表面沒有劃痕或不規(guī)則且沒有殘留物附著的噴嘴。

    更新日期:2025-05-02    訪問量:1656    

  • Clavelle Elephant精細(xì)零件無損探傷設(shè)備

    日本futaku精細(xì)零件無損探傷設(shè)備Clavelle Elephant 由于自動(dòng)檢查了放置在通用零件托盤上的微小零件的100,大大減輕了區(qū)分目視檢查的負(fù)擔(dān),并提高了檢查工作的效率,并且提高了鑒別精度并使其穩(wěn)定。 它是緊湊型臺(tái)式機(jī),是各種小批量零件鑒別檢查的理想選擇。

    更新日期:2025-05-02    訪問量:1697    

  • 手持式探針的電阻測量儀EC-80P

    日本napson手持式探針的電阻測量儀EC-80P 使用手持式探針的手動(dòng)無損(渦流法)電阻測量儀

    更新日期:2025-05-02    訪問量:1332    

  • 日本電子技研激光多普勒振動(dòng)計(jì)V100系列

    日本電子技研激光多普勒振動(dòng)計(jì)V100系列 型號(hào)名稱V100-LMV100-MSV100-S 測量頻率范圍0.5Hz-300kHz的 速度測量范圍3μm/ s至10 m / s0.05μm/ s至1 m / s0.05μm/ s至0.1 m / s

    更新日期:2024-03-20    訪問量:1475    

  • PDC-100AAI敲擊聲音檢查器

    日本port AI敲擊聲音檢查器PDC-100A 從麥克風(fēng)捕獲要檢查的錘子的敲擊聲,并使用主體內(nèi)部的機(jī)器學(xué)習(xí)功能來確定混凝土結(jié)構(gòu)內(nèi)部是否浮空或剝落。

    更新日期:2025-05-02    訪問量:1427    

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